第27回分析電子顕微鏡討論会のお知らせ
皆様、
このたびは、多数の参加者を得たことに分析電子顕微鏡分科会・幹事一同お礼を申し上げます。平日開催にもかかわらず総参加者は190名を超え、これもひとえに多くの企業および関係団体等からの支援のお陰と感謝しております。
来年も第28回分析電子顕微鏡討論会を幕張メッセで開催する予定でございます。今回参加していただいた皆様にはお礼を申し上げるとともに、来年もまたお会いできることを楽しみにしております。
2011年9月吉日
日本顕微鏡学会・分析電子顕微鏡分科会
代表幹事 金子賢治
幹事一同
スタッフ一同
主催：日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡分科会 代表責任者 金子賢治（九州大学）
協賛：日本物理学会、応用物理学会、日本表面科学会、日本金属学会、日本鉄鋼協会、日本分析化学会、
日本セラミックス協会、日本材料学会、触媒学会、軽金属学会、日本熱処理技術協会
開催日：平成23年9月6日（火）、7日（水）
場 所：幕張メッセ 国際会議場 （千葉県美浜区中瀬2-1、（日本分析機器工業会主催の分析展2011と同時開催）
参加費（予稿集含む）：顕微鏡学会会員及び協賛学会員
6,000円、非会員 7,000円、学生 無料
内 容： EDS、EELSおよび高分解能や電子線回折に関する基礎とともに、分析技術の進展や検出器・ホルダー、Li電池解析に関する最新情報を紹介します。また、試料作製法の基礎と応用についての講演を予定しています。一般からの口頭発表も募集していますので、奮ってご参加ください。
申込先（兼連絡先）：
〒819-0395 福岡市西区元岡744
九州大学大学院工学研究院
材料工学部門
金子 賢治
Tel/Fax
092-802-2959
e-mail(1): bunseki＠tem.zaiko.kyushu-u.ac.jp [@は小文字]
e-mail(2): bunseki＠zaiko13.zaiko.kyushu-u.ac.jp [@は小文字]
第27回分析電子顕微鏡討論会プログラム
9月6日（火）
10:00-12:30 チュートリアルセッション （4
x 35min） （座長：金子賢治）
「EDS分析の基礎と鉄鋼材料評価の実際」 山田克美（JFEスチール）
「EELS基礎」 木本浩司（物質・材料研究機構）
「電子回折法の基礎」 進藤大輔（東北大学）
「高分解能観察」 市野瀬英喜（沖縄科学技術研究基盤整備機構）
13:30-15:10 トピックスⅠ：検出器・ホルダーの最前線 （4 x 25min） （座長：奥西栄治）
「多分割検出による原子分解能STEMの新しい展開」 柴田直哉（東京大学）
「S/TEMにおける多検出器同時取得によるEDS高感度化のアプローチ」
伊野家浩司（日本エフイー・アイ）
「隔膜型環境TEMシステムの開発と応用」 福嶋球琳男(日本電子)
「雰囲気遮断FIB/STEMシステムを用いた活性材料の構造解析」
佐藤高広（日立ハイテクノロジーズ）
15:20-17:00 トピックスⅡ：Ｌｉ電池材料解析の最前線 （4 x 25min） （座長：朝山匡一郎）
「環状明視野法によるリチウム原子の定量観察」 大島義文（大阪大学）
「分析電子顕微鏡によるリチウムイオン電池材料の研究」
秋田知樹（産業技術総合研究所）
「化学状態から探るリチウムイオン二次電池正極の相分布マッピング」
武藤俊介（名古屋大学）
「リチウムを見る先進的電子顕微鏡法」 平山司（ファインセラミックスセンター）
9月7日（水）
10:00-12:00 試料作製 （4 x 30min） （座長：矢口紀恵）
「電解研磨法と抽出レプリカ法」 池松陽一（新日本製鐵）
「イオンミリングによるTEM用試料作製方法」 佐々木義和（日本電子）
「化学固定と組織化学」 山下修二（慶応大学）
「電子顕微鏡法における生物試料の凍結固定技術」 伊藤喜子(ライカマイクロシステムズ)
13:00-14:40 FIB法の最前線 （4 x 25min） （座長：近藤行人＋大門建夫）
「FIB加工技術が拓いた高位置精度微細構造解析」 矢口紀恵（日立ハイテクノロジーズ）
「リアルタイム3DアナリティカルFIB-SEMを用いた三次元解析」
鈴木秀和（エスアイアイ・ナノテクノロジー）
「FIBによる自動試料作製技術」 富松聡（日立ハイテクノロジーズ）
「DualBeam装置の生物系試料への応用」 完山正林（日本エフイー・アイ）
14:50-15:50 一般講演Ⅰ （4 x
15min） （座長：坂口紀史）
「TEM-WDSの高エネルギー領域への拡張」 寺内正己（東北大学）、高橋秀之、飯田信雄、
村野孝訓（日本電子）、小池雅人、河内哲哉、
今園孝志、長谷川登（原子力機構）、小枝 勝、
長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、米澤善央、
倉本智史（島津製作所）
「新たに開発された大立体角SDDとその応用」 奥西栄治、大西市朗、遠藤徳明、山宮実和子、
山崎和也、青田直樹、宮武耕志、渡邉俊善、
宮澤 聡、中西正紀、大藏善博、近藤行人
（日本電子）、
安永和史、藤 昇一、松村 晶（九州大学）
「位置分解型EELSによる固相合成BaTiO3の 松本弘昭、仲野靖孝、柿林博司、谷口佳史
反応機構解析」 （日立ハイテクノロジーズ）、
藤本正之（Yageo Corporation R＆Ｄ）
「Novel EELS acquisition
approach endorsed Alan Maigne（Gatan）
By high-speed spectrometer」
16:00-17:00 一般講演Ⅱ （4 x
15min） （座長：山本直紀）
「毛髪微小部位の未染色クライオEELS分析」 大塚祐二（東レリサーチセンター）、
田尻美喜（マンダム）、二村寛子（東レ
リサーチセンター）、椿原 操（マンダム）
「高分解能電子顕微鏡とDeconvolutionによる 中嶋伸恵、橋川直人、国宗依信、朝山匡一郎
半導体不良解析」 （ルネサスエレクトロニクス）、
大島 義文（大阪大学）
「超高圧電子線トモグラフィーによる亀裂先端 田中將己、東田賢二、定松直、中村拓人、
転位群の三次元構造解析」 井上誠介（九州大学）
「Y1-xGdxBa2Cu3O7-y中におけるBaZrO3の電子線 西山武志、山田和広、金子賢治（九州大学）、
トモグラフィによる解析」 加藤丈晴（ファインセラミックスセンター）、
和泉輝郎、塩原 融（国際超電導産業技術
研究センター）